測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
導航×
新聞資訊
News時間：05-29 2023 來自：祥宇精密
工具顯微鏡和電子顯微鏡都是常見的顯微鏡類型，它們在成像原理、成像方式以及應用范圍等方面存在差異。下面將介紹工具顯微鏡和電子顯微鏡的區(qū)別。
一、成像原理
工具顯微鏡是基于光學原理進行成像的，利用透鏡對物體進行放大，并通過目鏡觀察。而電子顯微鏡則是利用電子束來成像，由于電子波長比光波短得多，因此分辨率更高。
二、成像方式
工具顯微鏡的成像方式是以透射或反射方式進行成像，主要用于透明樣品或者不透明樣品表面的成像。而電子顯微鏡則是利用電子束直接掃描樣品表面或者穿透樣品進行成像，其成像方式可以是透射電子顯微鏡（TEM）或掃描電子顯微鏡（SEM）。
三、應用范圍
工具顯微鏡廣泛應用于生物學、醫(yī)學、材料科學、化學等領域，可以觀察到細胞、組織、晶體結構等微小結構。而電子顯微鏡的應用范圍主要在材料科學、電子學、半導體制造等領域，可以觀察到原子級別或分子級別的微小結構。
綜上所述，工具顯微鏡和電子顯微鏡在成像原理、成像方式以及應用范圍等方面都存在較大差異。在實際應用中，需要根據(jù)實際需求選擇合適的顯微鏡類型。
參考文獻：
1. 王靜, 張振生. 工具顯微鏡和電子顯微鏡的成像原理和對比[J]. 中國醫(yī)學影像技術, 2015, 31(07):1230-1233.
2. 李琳, 李超. 工具顯微鏡和電子顯微鏡在材料科學中的應用[J]. 硅酸鹽通報, 2019, 38(03):731-736.
3. 周光宏, 趙永斌, 呂振華. 工具顯微鏡與電子顯微鏡成像技術進展綜述[J]. 光學儀器, 2020, 42(05):445-456.
微信咨詢詳情
